주사전자현미경실
- 201동 209호
- 02-880-4957
본 기기실은 다양한 시료의 표면 구조를 나노 수준에서 관찰하기 위한 각종 현미경과 주변 장비를 보유하고 있다.
전계방출주사전자현미경을 이용하여 고배율, 고해상도에서 시료의 초미세구조와 나노 입자의 형태를 관찰할 수 있다.
또한 집속이온빔장치를 이용하여 이온 밀링, TEM 시료 제작 등이 가능하다.
특히 연속블록면 이미징과 대면적연속박편 이미징을 통하여 3차원 재구성을 지원하므로
시료의 단층 구조에 관한 정보를 제공한다. 보유 장비는 아래와 같다.
보유기기 목록
- 직접사용
FESEM(SUPRA)
Field-Emission Scanning Electron Microscope
- 분석의뢰
- 직접사용
FESEM(SIGMA 360)
Field-Emission Scanning Electron Microscope
- 직접사용
백금코팅기(Pt)
Sputter Coater
- 분석의뢰
- 직접사용
- 조작대행
FESEM(SIGMA)
Field-Emission Scanning Electron Microscope
- 분석의뢰
분석의뢰(일반)
- 분석의뢰
FIB-SEM 3차원 이미징
- 분석의뢰
연속 박편 3차원 이미징
- 분석의뢰
SEM-FIB(Crossbeam 550)
Focused Ion Beam
- 분석의뢰
Cryo-FESEM(FIB)
Cryo - Field Emission Scanning Electron Microscope
- 조작대행
FESEM/EDS-FlatQuad (AURIGA)
Field-Emission Scanning Electronic Microscopy
- 조작대행
FIB (AURIGA)
Focused ion beam
- 분석의뢰
대면적 이미징
연구원 정보
연구원
백성주
- 연구실201동 209호
- 연락처028804957
- 이메일seongjoo1212@snu.ac.kr
선임연구원
장수진
- 연구실201동 209호
- 연락처028804957
- 이메일zzinyi@snu.ac.kr
선임연구원
이형구
- 연구실201동 209호
- 연락처028804823
- 이메일dd209@snu.ac.kr
센터장/연구교수
권오경
- 연구실201동 204호
- 연락처028804823
- 이메일zoom@snu.ac.kr
선임분석원
황다영
- 연구실201동 211호
- 연락처028804958
- 이메일hwangdy@snu.ac.kr
선임연구원
이지영
- 연구실201동 211호
- 연락처028804823
- 이메일duck816@snu.ac.kr
