전자현미경 교육 세미나
- 일정
- 2019년 11월 29일(금)
- 등록일
- 2019.11.08
- 담당자
- 관리자
○ 일 시: 2019년 11월 29일 금요일 오전 10시 - 오후 4시 40분
○ 장 소: 서울대학교 NICEM(관악캠퍼스 201동) 101호 대강당
○ 등 록:
신청 하기
↑클릭
○ 일 정:
09:30-10:00 등록
10:00-10:40 SEM, FE-SEM 기본이론(김소영 대리, ZEISS)
10:40-11:10 FE-SEM 검출기 활용 (유지희 대리, ZEISS)
11:10-11:20 Break
11:20-12:00 FIB 기본이론 (유지희 대리, ZEISS)
12:00-13:00 점심식사
13:00-13:50 비전도성 및 빔에 민감한 샘플 분석법(최민기 차장, ZEISS)
13:50-14:00 Break
14:00-14:50 효과적인 이미징을 위한 전자 현미경 전처리 및 이미지 프로세싱 (박병준 부장, ZEISS)
14:50-15:00 Break
15:00-16:40 EDS/FlatQUAD/XRF 분석 Trend (최성지 과장, 브루커 코리아)
○ 참가비: 무료 (점심식사 제공)
○ 문 의: 02-880-4957, mkpark8@snu.ac.kr
microscopy.kr@zeiss.com
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○ 장 소: 서울대학교 NICEM(관악캠퍼스 201동) 101호 대강당
○ 등 록:
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○ 일 정:
09:30-10:00 등록
10:00-10:40 SEM, FE-SEM 기본이론(김소영 대리, ZEISS)
10:40-11:10 FE-SEM 검출기 활용 (유지희 대리, ZEISS)
11:10-11:20 Break
11:20-12:00 FIB 기본이론 (유지희 대리, ZEISS)
12:00-13:00 점심식사
13:00-13:50 비전도성 및 빔에 민감한 샘플 분석법(최민기 차장, ZEISS)
13:50-14:00 Break
14:00-14:50 효과적인 이미징을 위한 전자 현미경 전처리 및 이미지 프로세싱 (박병준 부장, ZEISS)
14:50-15:00 Break
15:00-16:40 EDS/FlatQUAD/XRF 분석 Trend (최성지 과장, 브루커 코리아)
○ 참가비: 무료 (점심식사 제공)
○ 문 의: 02-880-4957, mkpark8@snu.ac.kr
microscopy.kr@zeiss.com
